第74回日本顕微鏡学会全国学術集会
一般公開プログラム
「電子顕微鏡はあらゆる分野における材料開発や物性研究等で広範囲に利用されており、ますます微細化してくるナノテク材料の評価・解析には必要不可欠な装置です。今回、最新の電子顕微鏡の紹介と解りやすい極微領域における材料解析を目指したチュートリアルを企画させていただきました。」
また、簡単な技術相談会も同時に企画しています。解らないことがあれば、何でもご相談ください。（本当？）
絶対に損はさせません
「騙されたと思って、寄ってらっしゃい、見てらっしゃい！」
| 下記フォームより参加登録を行ってください。 |
日時：2018年5月28日（月）13:30~17:30 場所：久留米シティプラザ 福岡県久留米市六ツ門町8-1
1）TEM全般（試料作製から観察の基礎的手技）
（九州大学 教授 金子賢治）
できるだけ初心者の方々にわかりやすく解説する予定です。
2）機能性セラミックスの電子顕微鏡解析例－低倍率，電子回折から高分解能まで－
（九州大学 准教授 佐藤 幸生）
機能性材料の開発では，明視野・暗視野像，電子回折パターン，高分解能像などを駆使することで様々な材料情報が得ることができます．本チュートリアルではこれら各種手法の使い方や得られる情報について紹介する予定です。
3）極低加速走査電子顕微鏡における試料前処理及び観察のノウハウと応用例
（日本電子株式会社 作田 裕介）
「近年、電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)の発展に伴い、ナノオーダーでの表面観察だけでなく微小領域での元素分析も行なえるようになり、そのニーズは多分野において高まってきている。本発表ではFE-SEMの前処理、観察方法から最新の解析例を中心に紹介する」
4）SEM+軟X線分光でここまで明らかになる材料分析事例
(日本電子株式会社 高倉 優)
「軟Ｘ線分光器SXES-ERは，従来のSEM-EDS分析では困難な，400eV～1keV付近の遷移金属L線スペクトルを高エネルギー分解能でパラレル計測可能である．本チュートリアルではSXES-ERの概略と，その特徴的な応用分析事例を紹介する」
5）高速ピクセル型STEM検出器「4DCanvas」の開発とその応用
（日本電子株式会社 佐川 隆亮）
「ピクセル型STEM検出器で取得される四次元データ用いて、タイコグラフィー位相像や電場・磁場マップなど従来型STEM検出器では得ることができなかった様々なSTEM像を作成した結果について紹介する」
6）講師との交流会（質問意見交換）
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さらに高度な技術について知りたい方！学術集会内で多数のワークショップ・セッションが企画されています。これらの技術に興味をお持ちなら、迷わず学術集会へも参加登録してから、本チュートリアルにお申し込みください、お得です！
今回、日本顕微鏡学会では学会会員とは関係なく、すべての研究者の方に向けに、基礎技術チュートリアルを企画します。どなたでもご参加いただけます。
・顕微鏡学会学術講演会参加の方は無料です。
・本チュートリアルのみ参加の方は、参加費¥5,000とさせていただきます。
（尚、本チュートリアル参加証で会期中の機器展示もご覧いただけます。）
事前受付は2018年5月26日正午で締め切りましたが、
当日受付も致します。
参加ご希望の方は、会場にて5月28日（月）13:00より参加受付を開始します。
久留米シティープラザ4階までお越しください。